壓電物鏡位移臺用于掃描顯微成像！
壓電物鏡位移臺是專為驅動物鏡頭進行納米級快速步進、掃描而設計的，它與壓電納米定位臺、壓電平臺具有相同的原理，與之不同之處是具有專門針對物鏡頭的特殊螺紋適配接口，非常便于物鏡頭的連接與固定。
從上圖中可看出，在外觀上，壓電平臺與壓電物鏡位移臺顯著不同。
以芯明天P76壓電物鏡位移臺為例，它的外形類似中空的圓柱形，結構內部采用對稱式的驅動機構，在內側中空位置固定物鏡頭，且物鏡螺紋適配器可根據客戶要求選擇或定制。
芯明天P76壓電物鏡位移臺
P76壓電物鏡位移臺的行程為100μm（1μm是一百萬分之一米），它的分辨率可高達2.5nm（1nm為十億分之一米）；它的承載能力為500g，并且它的掃描階躍時間可達2ms。配備閉環(huán)傳感器后，它的重復定位精度可達滿行程的0.02%。
閉環(huán)版本詳細參數如下。
型號：P76.Z100S
運動自由度：Z
行程范圍（0~120V）：80μm
行程范圍（0~150V）：100μm
傳感器類型：SGS
線性度：0.05%F.S.
重復定位精度：0.02%F.S.
推/拉力：70/10N
運動方向剛度：0.8N/μm
空載諧振頻率：800Hz
空載階躍時間：5ms
10%行程空載工作頻率：400Hz
靜電容量：7.2μF
重量：520g
通過激光準直儀測量P76壓電物鏡位移臺運動的直線性。
應用舉例
P76壓電物鏡位移臺應用于顯微掃描成像，以測量納米結構。
下圖應用中采用的是倒置使用壓電物鏡位移臺，顯微鏡與物鏡位移臺位于樣品的下方。該系統(tǒng)采用籠式結構組成，利用光學測量原理，通過P76位移臺的納米級高精度快速步進掃描，可對納米結構進行高精度的測量，該測量非常適于生物、醫(yī)療等應用，同時它也是納米加工中*的步驟。
